מדידה כמותית של דיפוזיה של זהב לתוך מצע סיליקון במערכת של שכבה דקה של זהב בעובי 120 ננומטר המודפת על מצע של סיליקון רב גבישי
הנדסת חומרים-בן גוריון אפיון בהנדסת חומרים
מדידה כמותית של דיפוזיה של זהב לתוך מצע סיליקון במערכת של שכבה דקה של זהב בעובי 120 ננומטר המודפת על מצע של סיליקון רב גבישי
1
מיין לפי
מוניטין: 430
מדידה כמותית-ספקטרוסקופיה
120 ננומטר- שכבה דקה
מוניטין: 100
לאוז'ה הערכה כמותית לא מדויקת בשל גבול גילוי גבוהה יחסית של 1000 PPM
מוניטין: 100
100PPM *
מוניטין: 0
התשובה הנכונה זה פרופיל עומק בXPS
מוניטין: 80
XPS בשינוי זווית לא מגיע ל 120 ננומטר אלא לננומטרים בודדים התשובה זה אוז'ה
מוניטין: 40
מצטט את רימון עבור פרופיל עומק ב xps:
עם זאת הפרופיל עומק יהיה עבור עומק מוגבל מאוד שגודלו בסביבות המהלך החופשי הממוצע של הפוטואלקטרון- כמה
ננומטרים
מוניטין: 80
יונתן הייתי עושה לך ליק אם הייתי יודע איך
מוניטין: 40
מעריך זאת איתמר
מוניטין: 199
לפי דעתי התשובה הנכונה היא פרופיל עומק של ספקטרוסקופית אוז'ה כי XPS בזווית משתנות מגיע לעומק של ננומטרים בודדים
מוניטין: 199
יש דוגמה של הבדיקה הזאת לAES אצל רימוןבעמוד 90
* השאלה נוספה בתאריך: 12-05-2020