Z מספר אטומי - ככול שהוא קטן יותר רגישות פחות טובה
A בליעת קרני X - כמה מהפליטה האופיינית נבלעה בחומר
F פליטת קרני ס בתוך הדגם- מה התוצאה של הפליטה מאותה בליעה פנימית בדגם
משתמשים בתיקום בכדי לקבל אנליזה סמי כמותית
לכול EDS
מיין לפי
Avigayil Sztokman0 נקודות ·
יותר מ-6 חודשים
( תגובות)
פקטור הרגישות המשטחב לSIMS, (הריכוז שווה למינון ההשתלה חלקי עומק המכתש)
הנחת היסוד היא שריכוז המטריצה קבוע ואינו משתנה בזמן המדידה.
קרן יוני חמצן (מעודדת יצירה של יונים חיוביים) ויוני צזיום (שלישים) יגרום לשינוי ברגישות המדידה