אפיון בהנדסת חומרים
- 278 שאלות
- 156 תגובות
- 0% הושלמו
- equalizer סטטיסטיקות
- share שתף
Discuss, Learn and be Happy דיון בשאלות
help
brightness_4
brightness_7
format_textdirection_r_to_l
format_textdirection_l_to_r
בספקטרוסקופיית אוז'ה, הרזולוציה הלטרלית תלויה ב
1
| done | ||
אוז'ה=AES= הקרנת חומר בקרן אלקטרונים וזיהוי הרכב היסודות בפני השטח ע"י האנרגיה של אלקטרוני אוז'ה המתקבלים.
אנליזה כימית איכותית של פני השטח
תמונה שמסבירה טוב בעמוד 83 רימון תמרי
מיין לפי
מוניטין: 370
אלקטרוני אוזה לא מגיעים מבצל האינטראקציה,ומקדם הפליטה הפלורצנתית לא משפיע על הרזולוציה בשיטה זו
בדיקה לא הרסנית באמצעות הסרה איטית ומבוקרת של אטומים
1
נתונה תמונה הלקוחה ממיקרוסקופ SEM, שכבה של 100 ננומטר. למדידה מדויקת של עובי השכבה נשתמש ב:
1
| done | ||
מיין לפי
הרגישות הגבוהה של XRF לעומת EDS נובעת מ:
1
| sentiment_very_satisfied | ||
XRF מוציא X ומגלה X לכן נפח האינטרציה גדול יותר מאשר EDS
EDS הוא גלאי המספק מידע משלים על הרכב כימי מקומי - קרן האלקטרונים הראשית מעררת נפח מסויים בחומר וכתוצאה מכך נפלטת קרינת X אופיינית
בגלל שEDS זה ערעור עם אלקטרונים הוא פחות חודר - בצל יותר קטן
הדמיית שדה חשוך ב TEM מתבצעת על ידי:
1
| done |
בשדה חשוך נרצה לראות רק את התמונה המתקבלת מאלומה ספציפית ע"י הזזת הצמצם או הטייה של הקרן
אם למתבדלים ולמטריצה הייתה אותה תבנית עקיפה אז לא היה קונטרסט דיפרקציה. בשדה חשוך לא היינו רואים כלום
מיין לפי
(מופיע גרף של שטח חתך ליוניזציה בקליפה K כתלות באנרגיה, הפיק של הגרף ב 55 KeV) מהי האנרגיה הקריטית ליוניזציה בקליפה K:
1
מיין לפי