אפיון חומרים בן גוריון

לפי קריטריון ריילי, גבול הרזולוציה התיאורתי של מכשיר אופטי הפועל באורך גל של 1 מיקרון הוא בקירוב -

1

הקשר שבין הסיכוי לפליטת אלקטרון שניוני לבין העומק בו נוצר , הוא -

1

סינגל האלקטרונים בשניונים בSEM מתקבל מאלקטרונים

1

הרגישות הגבוהה של XRF לעומת EDS נובעת מכך ש -

1

שאלה #158510

		שבXRF גם הקרינה הראשונים וגם הקרינה השניונית הם מאותו סוג
		שבXRF הארגיה של הקרן המעררת גבוהה בצורה משמעותית מזו של הקרן הנפלטת
		שנפח האינטרקציה בXRF גדול בצורה משמעותית מזה של EDS
		שהרזולציה האנרגטית בXRF גבוהה בצורה משמעותית מזו של EDS

מיין לפי

shaked bitton 0 נקודות · לפני חודשיים

מוניטין: 55

מקבלים מידע מעומק בצל האינטרקציה-> רגישות גבוה למספר אטומי(נראלי)

הדמיה טופוגפית של מדרגות קרסטילוגרפיות בגודל של חצי פרמטר סריג של קרמיקה שקופה a= 5.78A תתבצע בשיטה :

1

בEDS , ההבדל בין SEM ל TEM הוא -

1

שאלה #158512

		בSEM השגיאה ברגישות גבוהה יותר
		בTEM קל יותר לעשות אנליזה כמותית
		בSEM הגבול גילוי יותר טוב
		כל התשובות נכונות

מיין לפי

shaked bitton 0 נקודות · לפני חודשיים

מוניטין: 55

א- השגיאה ברגישות קטנה יותר כי נפח אינטרקציה גדול-> החמרת שגיאות בליעה ופליטה פלורסנטית. ב- עיבוד תוצאות כמותי פשוט. ג- גבול גילוי 0.1% בשניהם (יובל גולן: עשירית אחוז ביום טוב), בSEM ביסודות כבדים 0.01%.

		500 ננומטר
		50 ננומטר
		5 ננומטר
		0.5 ננומטר

		קשר לינארי הופכי
		קשר לינארי
		קשר אקספוננציאלי הופכי
		אין קשר ישיר

		אלסטיים בעלי מהלך חופשי ממוצע קצר
		אלסטיים בעלי מהלך חופשי ממוצע ארוך
		בעלי אנרגיה מסדר גודל של eV בודדים
		אשר איבדו חלק מהאנרגיה שלהם כתוצאה מן האינטרקציה שלהם עם החומר המוצק

		AFM - CONTACT
		AFM - TAPPING
		STM
		אף שיטה מהנ"ל

אפיון חומרים בן גוריון

Discuss, Learn and be Happy דיון בשאלות

לפי קריטריון ריילי, גבול הרזולוציה התיאורתי של מכשיר אופטי הפועל באורך גל של 1 מיקרון הוא בקירוב -

שאלה #158507

הקשר שבין הסיכוי לפליטת אלקטרון שניוני לבין העומק בו נוצר , הוא -

שאלה #158508

סינגל האלקטרונים בשניונים בSEM מתקבל מאלקטרונים

שאלה #158509

הרגישות הגבוהה של XRF לעומת EDS נובעת מכך ש -

שאלה #158510

הדמיה טופוגפית של מדרגות קרסטילוגרפיות בגודל של חצי פרמטר סריג של קרמיקה שקופה a= 5.78A תתבצע בשיטה :

שאלה #158511

בEDS , ההבדל בין SEM ל TEM הוא -

שאלה #158512

אפיון חומרים בן גוריון

Discuss, Learn and be Happy דיון בשאלות

לפי קריטריון ריילי, גבול הרזולוציה התיאורתי של מכשיר אופטי הפועל באורך גל של 1 מיקרון הוא בקירוב -

שאלה #158507

הקשר שבין הסיכוי לפליטת אלקטרון שניוני לבין העומק בו נוצר , הוא -

שאלה #158508

סינגל האלקטרונים בשניונים בSEM מתקבל מאלקטרונים

שאלה #158509

הרגישות הגבוהה של XRF לעומת EDS נובעת מכך ש -

שאלה #158510

הדמיה טופוגפית של מדרגות קרסטילוגרפיות בגודל של חצי פרמטר סריג של קרמיקה שקופה a= 5.78A תתבצע בשיטה :

שאלה #158511

בEDS , ההבדל בין SEM ל TEM הוא -

שאלה #158512

בקשה לשינוי התשובה / תיקון שאלה gavel

בקשה למחיקת השאלהmood_bad

בקשה לשינוי התשובה / תיקון שאלה

בקשה למחיקת השאלה